ICP-OES 故障排除与维护指南
是否希望减少维护麻烦和停机,并改善实验室的整个工作流程?本详解指南将为您展示如何最大程度提高 ICP-OES 性能并克服常见挑战。
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是否希望减少维护麻烦和停机,并改善实验室的整个工作流程?本详解指南将为您展示如何最大程度提高 ICP-OES 性能并克服常见挑战。
雾化器
ICP-OES 的灵敏度取决于形成等离子体的样品量,当雾化器可生成稳定的细粒子气溶胶时,即可获得较好的精密度。在 ICP-OES 技术中,样品引入系统的不当操作是造成精密度和准确度欠佳的最常见原因之一。发现为您的应用提供最佳性能的雾化器类型,了解可帮助您定期清洁雾化器的技术,并在堵塞发生时对其进行清除。
如果发生堵塞,根据技术概述中的步骤对雾化器进行定期清洁。
选择最适合您应用的雾化器,确保实现最佳性能并减少堵塞。
炬管
炬管设计还会影响 ICP-OES 的灵敏度和基质耐受性。尽管较大的中心管内径可提高基质耐受性,但是需要使用窄径中心管降低等离子体负载并提高有机溶剂的稳定性。样品基质、盐的沉积或甚至碳的堆积均可导致炬管中心管堵塞。这会阻碍样品气溶胶进入等离子体,从而造成灵敏度、准确度和精度下降。确认使用的是根据您的应用推荐的炬管类型,了解可帮助您定期清洁雾化器的技术,并在堵塞发生时对其进行清除。
本技术概述将为您提供避免中心管堵塞并延长运行时间的技术指导。
虽然“标准”炬管可以处理许多应用,但您可能还需要使用专门的炬管进行某些分析。
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