塗膜くず中の低濃度 PCB 測定

塗膜くず中の低濃度 PCB 測定

トリプル四重極型 GC/MS

リーフレット

低濃度 PCB 含有廃棄物：塗膜・シーリング材 PCB 分析ソリューション

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塗膜くず中の低濃度 PCB 測定

2019年 10月に環境省より発行された低濃度 PCB 含有廃棄物に関する測定方法（第 4 版）に、「塗膜くず」における低濃度 PCB の測定について示されています。
PCB 廃棄物の処理期限は 2027年 3月 31日までに処理を終えることとされています。
塗膜の種類によっては塩素ゴム系塗料や有機塩素系顔料を含む場合があり電子捕獲型検出器（ECD）では選択性が不十分な場合があることから、適用可能な分析方法として GC-MS 法が採用されています。

アジレントでは、塗膜くず中の低濃度 PCB 測定には、超高感度イオン源（HES）および JetClean セルフクリーニングイオン源を搭載したトリプル四重極 GC/MS システムをご提案させていただいております。

導入事例：株式会社エオネックス様でご導入いただき、ご使用いただいております。

参考資料：低濃度 PCB 含有廃棄物に関する測定方法（第 4 版） [PDF]（環境省のサイトへ）

Key Point : 塗膜等の高マトリックスなサンプルでの低濃度 PCB 測定においては、GC/MS/MS 法の高い選択性により高精度な分析を可能にします。

超高感度イオン源（HES）搭載 Agilent 7010Bトリプル四重極 GC/MS システム
VF Rapid-MS PCB キャピラリカラム（PCB 分析に特化した迅速分析用カラム、p/n CP8142)
リテンション・タイム・ロッキング（RTL）による保持時間データベース
JetClean セルフクリーニングイオン源
MassHunter ソフトウェア　　 PCB 異性体のピーク同定ツール　（Compound Group Peaks）
サーマル・セパレーション・プローブ（TSP）によるスクリーニング分析サーマル・セパレーション・プローブ（TSP）によるスクリーニング分析

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JetClean セルフクリーニングイオン源

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VF Rapid-MS PCB キャピラリカラム

PCB 分析に特化した迅速分析用カラム（p/n CP8142).

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トリプル四重極 GC/MS システム

超高感度イオン源（HES）搭載した 7010B GC/MS/MS システム

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本資料掲載の製品は、すべて研究用です。その他の用途にご利用いただくことはできません。